1. C. Pithan, D. Hennings and R. Waser, Int. J. Appl. Ceram. Technol., 2, 1 (2005); doi:10.1111/j.1744-7402.2005.02008.x.
2. M. Teresa Buscaglia, C. Harnagea, M. Dapiaggi, V. Buscaglia, A. Pignolet and P. Nanni, Chem. Mater., 21, 5058 (2009); doi:10.1021/cm9015047.
3. S.G. Kwon, B.H. Park, K. Choi, E.-S. Choi, S. Nam, J.-W. Kim and J.-H. Kim, J. Eur. Ceram. Soc., 26, 1401 (2006); doi:10.1016/j.jeurceramsoc.2005.02.003.
4. S. Su, R. Zuo, D. Lv and J. Fu, Powder Technol., 217, 11 (2012); doi:10.1016/j.powtec.2011.09.045.
5. J.Q. Qi, L. Sun, Y. Wang, W.P. Chen, P. Du, Y.G. Xu, L.T. Li, C.W. Nan and H.L.W. Chan, Adv. Powder Technol., 22, 401 (2011); doi:10.1016/j.apt.2010.06.007.
6. S.K. Tripathy, T. Sahoo, M. Mohapatra, S. Anand and R.P. Das, Mater. Lett., 59, 3543 (2005); doi:10.1016/j.matlet.2005.06.024.
7. A. Testino, V. Buscaglia, M.T. Buscaglia, M. Viviani and P. Nanni, Chem. Mater., 17, 5346 (2005); doi:10.1021/cm051119f.
8. V. Swaminathan, S.S. Pramana, T.J. White, L. Chen, R. Chukka and R.V. Ramanujan, ACS Appl. Mater. Interfaces, 2, 3037 (2010); doi:10.1021/am1004865.
9. M. Zeng, N. Uekawa, T. Kojima and K. Kakegawa, J. Mater. Res., 22, 2631 (2007); doi:10.1557/jmr.2007.0337.
10. X.Y. Chen, M.H. Qiao, S.H. Xie, Fan, Zhou and He, J. Am. Chem. Soc., 129, 13305 (2007); doi:10.1021/ja074834u.
11. V. Vinothini, P. Singh and M. Balasubramanian, Ceram. Int., 32, 99 (2006); doi:10.1016/j.ceramint.2004.12.012.
12. M. Zeng, Appl. Surf. Sci., 257, 6636 (2011); doi:10.1016/j.apsusc.2011.02.090.
13. J.O. Eckert, C.C. Hung-Houston, B.L. Gersten, M.M. Lencka and R.E. Riman, J. Am. Ceram. Soc., 79, 2929 (1996); doi:10.1111/j.1151-2916.1996.tb08728.x.
14. J. Moon, E. Suvaci, A. Morrone, S.A. Costantino and J.H. Adair, J. Eur. Ceram. Soc., 23, 2153 (2003); doi:10.1016/S0955-2219(03)00016-5.
15. B. Sahoo and P.K. Panda, Ceram. Int., 38, 5189 (2012); doi:10.1016/j.ceramint.2012.03.025.
16. M.M. Vijatović Petrović, J.D. Bobić, A.M. Radojković, J. Banys and B.D. Stojanović, Ceram. Int., 38, 5347 (2012); doi:10.1016/j.ceramint.2012.03.041.
17. N. Uekawa, M. Endo, K. Kakegawa and Y. Sasaki, Phys. Chem. Chem. Phys., 2, 5485 (2000); doi:10.1039/b003611k.